一、产品概述
     光电成像基础与应用实训平台包括CCD和CMOS两大方面，这两方面原理与应用是《光电技术》和《图像传感器应用技术》课程重要章节，也是教学的难点章节，因此，monxyuan开发了光电成像基础与应用实训平台。该平台采用搭建式、开放式设计，直观展现了线阵CCD、面阵CCD和CMOS的工作原理，并且设置了工程实际检测的实验，是学生理解和认识CCD和CMOS工作原理与实际应用的最理想的教学实验系统。

二、教学目的
1. 了解并掌握线/面阵CCD和CMOS的原理；
2. 了解线/面阵CCD和CMOS的软件使用方法；
3. 了解并掌握面阵CCD和CMOS信号处理方法；
4. 了解并掌握运用面阵CCD和CMOS进行尺寸测量和图像处理的方法；
5. 了解并掌握学生掌握线阵CCD的几种典型的应用；
三、主要技术参数
1. 内置黑白面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调整；
2. 外接彩色面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调整；
3. 图像采集卡：8bit分辨率，黑白、彩色8bit×3采集；USB2.0接口；
4. 线阵CCD传感器，TCD1206D，有效像元数：2160；像元尺寸：14μm×14μm，相邻像元中心距14μm；
5. 信号输出电器特性：模拟信号输出5V；数字信号输出，TTL电平；
6. 操作软件：兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP、Windows7、Windows10；
7. 数据采集系统：8位分辨率，USB2.0方式，速度不低于5MHz的高速数据采集系统；
8. 光源：白色LED远心照明光源；白色LED均匀光源；
9. 成像物镜：焦距：50mm；相对孔径：2；
10. 图像传感器：1/4″CMOS彩色；
11. 感光面积：4.9mm×3.7mm；
12. 信号系统：PAL/NTSC；
13. 有效像素768(H)×494(V)；
14. 功率消耗：小于3.5W；
15. 电源：12V ；
16. 工作温度：-20°C～+55°C；
17. 感光芯片：1/4"OV5116B/WCMOS
18. 感光面积：3.2mm*2.5mm
19. 清晰度：240TVlines
20. CPLD:最大延迟时间tpd(1)10.0ns；电压电源内部3V~3.6V逻辑元件/逻辑块数目4；宏单元数64；门数1250；输入/输出数34；工作温度0°C~85°C；
四、实验内容
1. 面阵CCD原理与驱动实验；
2. 面阵CCD数据采集与计算机接口实验；
3. 面阵CCD边缘与轮廓检测；
4. 面阵CCD物体尺寸测量实验； 
5. 面阵CCD图像的点运算；  
6. 面阵CCD图像的几何变换；
7. 面阵CCD图像采集与参数设置；
8. 面阵CCD投影与差影图像分析；
9. 面阵CCD图像的滤波与增强； 
10. 面阵CCD形态学处理；
11. 面阵CCD旋转与缩放；
12. 面阵CCD颜色识别与变换；
13. 面阵CCD图像采集程序设计；
14. 线阵CCD工作原理与驱动波形观测；
15. 线阵CCD模拟输出信号的调整；
16. 通过采集卡对线阵CCD的模拟输出信号进行A/D转换和数据采集；
17. 通过软件浮动阈值对CCD的输出信号进行二值化处理；
18. 利用线阵CCD对物体尺寸进行非接触的实时测量；
19. 利用线阵CCD对物体的角度进行测量；
20. 利用线阵CCD测量物体的振动；
21. 利用线阵CCD识别一维条形码；
22. 利用线阵CCD扫描物体的二维图像；
23. 利用外置相机进行实物尺寸测量
24. 用硬件提取边缘信号的二值化
25. CMOS原理与驱动实验；
26. CMOS数据采集实验；
27. CMOS图像采集程序设计
28. CMOS用于边缘与轮廓检测实验；
29. CMOS用于物体的尺寸测量实验；
30. CMOS用于图像采集与参数设置实验；
31. CMOS用于投影与差影图像分析实验；
32. CMOS用于图像的滤波与增强实验；
33. CMOS用于颜色识别与变换实验；
34. 扩展性实验
（1）通过提供的CPLD程序，学生可以了解CPLD对外围器件的控制；
（2）有能力的学生还可以自己编程来产生方波；
（3）通过提供的SDK和DEMO程序，编写程序来采集扩展相机的数字信号；
（4）利用扩展相机并编写软件进行其他如尺寸测量等实验等；
五、配套文件资料
1. 实验指导书1本；
2. 实验软件1套；
3. 实验录像光盘1套；